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                  光切法顯微鏡 9J(JBQ)
                顯微鏡 >> 顯微鏡 >> 測量顯微鏡.光切法顯微鏡

                產品名稱:光切法顯微鏡
                產品型號:9J(JBQ)

                詢購熱線: 021-65730171

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                本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標準GB 1031-68所規定▽3-9級表面光潔度。

                對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。

                光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。

                 

                測量范圍不平度平均高度值

                0.81.6微米

                >1.66.3微米

                >6.320微米

                >2080微米

                表面光潔度級別

                9

                87

                65

                43

                所需物鏡

                60N.A.0.55

                30N.A.0.40

                14N.A.0.20

                7N.A.0.12

                總放大倍數

                510×

                260×

                120×

                60×

                物鏡組件工作距離

                0.04mm

                0.2mm

                2.5mm

                9.5mm

                視場

                0.3mm

                0.6mm

                1.3mm

                2.5mm

                攝影裝置放大倍數

                6×

                測量不平度范圍

                0.880)微米

                不平度寬度

                用測微目鏡

                0.7微米~2.5mm

                 

                用座標工作臺

                0.0113mm

                儀器重量

                23kg

                外形尺寸

                180×290×470mm

                 

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